DIN EN 3237-1998 航空航天系列.NI-P100HT(因康718)耐热镍基合金制薄壁自锁长镶嵌件.镀银内螺纹

作者:标准资料网 时间:2024-05-12 11:32:41   浏览:8158   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Aerospaceseries-Inserts,thinwall,self-locking,long,inheatresistingnickelbasealloyNI-P100HT(Inconel718)-Silverplatedinternalthread;GermanversionEN3237:1998
【原文标准名称】:航空航天系列.NI-P100HT(因康718)耐热镍基合金制薄壁自锁长镶嵌件.镀银内螺纹
【标准号】:DINEN3237-1998
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1998-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:特性;螺纹嵌镶件;设计;耐热材料;高温;材料;试验;试验温度;表面处理;镍;螺纹;名称与符号;MJ螺纹;镍合金;尺寸;镍基合金;航天运输;抗拉强度;紧固件;规范(验收);合金;航空航天运输;航空运输;质量保证;飞行器
【英文主题词】:Aerospacetransport;Airtransport;Aircraft;Alloys;Design;Designations;Dimensions;Fasteners;Heat-resistantmaterials;Hightemperature;Inconel;Materials;MJ-threads;Nickel;Nickelalloys;Nickelbasealloys;Properties;Qualityassurance;Spacetransport;Specification(approval);Surfacetreatment;Tensilestrength;Testtemperatures;Testing;Thin-walled;Threadinserts;Threads
【摘要】:
【中国标准分类号】:V20
【国际标准分类号】:49_030_30
【页数】:7P.;A4
【正文语种】:德语


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基本信息
标准名称:不透性石墨材料力学性能试验方法总则
英文名称:General rules for test methods of mechanical properties of impermeable graphite materials
中标分类: 化工 >> 化工机械与设备 >> 非金属化工机械设备
ICS分类: 电气工程 >> 绝缘流体 >> 绝缘气体
替代情况:HG 5-1327 HG 5-1328-1980;被GB/T 13465.1-2002代替
发布日期:1992-06-02
实施日期:1993-05-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:2003-04-01
出版日期:1900-01-01
页数:3页
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所属分类: 化工 化工机械与设备 非金属化工机械设备 电气工程 绝缘流体 绝缘气体
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part11:Rapidchangeoftemperature;Two-fluid-bathmethod(IEC60749-11:2002);GermanversionEN60749-11:2002
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度骤变.双液电镀槽法
【标准号】:EN60749-11-2002
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-04
【实施或试行日期】:2003-04-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电学测量;机械试验;电子设备及元件;环境试验;半导体器件;破坏试验;温度变化;集成电路;气候试验;电子工程;定义;电气工程;气候;试验;半导体;元部件
【英文主题词】:Changesoftemperature;Climate;Climatictests;Components;Definition;Definitions;Destructivetesting;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:10P.;A4
【正文语种】:英语