IEC 60749 AMD 1-2000 半导体器件机械和气候试验方法修改1
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时间:2024-05-21 17:36:54
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods;Amendment1
【原文标准名称】:半导体器件机械和气候试验方法修改1
【标准号】:IEC60749AMD1-2000
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2000-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:气候;试验;温度变化;气候试验;半导体;外观检查(试验);温度;易燃性;耐力;环境;机械试验;尺寸;元部件;环境试验;环境试验;大气压;电子设备及元件;电子工程;密封性;半导体器件;电学测量;电气工程;热学;集成电路;潮气
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:K04
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:21P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件机械和气候试验方法修改1
【标准号】:IEC60749AMD1-2000
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2000-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:气候;试验;温度变化;气候试验;半导体;外观检查(试验);温度;易燃性;耐力;环境;机械试验;尺寸;元部件;环境试验;环境试验;大气压;电子设备及元件;电子工程;密封性;半导体器件;电学测量;电气工程;热学;集成电路;潮气
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:K04
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:21P;A4
【正文语种】:英语
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